產品目錄
聯系方式
惠州市華高儀器設備有限公司
聯系人：范志華
電話/傳真：0752-7168848
地址：惠州市江北文昌一路11號華貿大廈T3寫字樓1707-1708
郵編：516003
郵箱：1932151337@qq.com
聯系人：范志華
電話/傳真：0752-7168848
地址：惠州市江北文昌一路11號華貿大廈T3寫字樓1707-1708
郵編：516003
郵箱：1932151337@qq.com
技術文章
- 菲希爾臺式鍍層測量儀膜厚儀 XAN500：靈活多樣的鍍層測量解決方案?
- 美國善思點料機 AXI 5100C：X 射線熒光光譜儀新選擇
- 海克斯康手持3D掃描儀：開啟三維掃描新體驗
- 島津液相色譜質譜聯用儀 LCMS-8080：高靈敏度分析的創新之選
- ?？怂箍奠`活型橋式三坐標測量機 Leitz Reference Xi：滿足多元測量需求
- ESPEC愛斯佩克進口GP系列高低溫試驗箱：多行業試驗的可靠選擇
- ROHS檢測光譜儀的校準與維護技巧
- 安捷倫7820A氣相色譜系統：滿足常規分析需求的可靠選擇
- 日本島津AIRsight紅外拉曼“二位一體“顯微鏡：微區分析的創新解決方案
- 貴金屬元素分析儀的設計與性能優化
| 產品圖片 | 產品名稱/型號 | 產品描述 |
-
貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，運用*于的基本參數法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素，其穩定性和可靠性均處于業內*水平。 -
Ux-6200貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV，運用于的基本參數法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素，其穩定性和可靠性均處于業內水平。 -
貴金屬元素分析儀UX-6200本儀器專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV，運用*于的基本參數法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素。 -
貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，運用*于的基本參數法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素，其穩定性和可靠性均處于業內*水平。
-
X熒光重金屬元素分析儀E-max基于HDXRF技術，可快速準確定量分析土壤中鎘等重金屬元素，其*越檢測性能可以滿足中國農用土壤監管法規要求（GB15618-2018），檢出限輕松應對鎘元素的法規限值0.3mg/kg。 -
華唯RoHS檢測儀精密合金分析儀 采用華有的FlexFp，不再受標準樣品的限制，在無標樣的情況下直接可以測試樣品的成分含量 材料實驗室成分檢測助手：快速，準確， 利用X熒光快速測試原理，通過內置的測試程序，準確的測試出材料中常量和微量元素的含量，只要材料中有的就能鑒別并準確報告。
